Giới thiệu máy đo trở kháng Hioki IM7585
Thiết bị kiểm tra trở kháng Hioki IM7585 là thiết bị phân tích trở kháng tần số cao, hỗ trợ dải tần 1 MHz đến 1,3 GHz, tốc độ đo nhanh nhất 0,5 ms và độ chính xác cơ bản ±0,65% giá trị đọc. Thiết bị được thiết kế cho nghiên cứu phát triển cũng như kiểm tra sản lượng lớn các linh kiện như hạt ferrite dạng chip và cuộn cảm dạng chip.
IM7585 sử dụng phương pháp RF I-V, kết hợp thân máy kích thước nửa rack với đầu đo nhỏ gọn. Thiết bị hỗ trợ kiểm tra tiếp xúc, đo quét tần số, quét mức tín hiệu, đo theo khoảng thời gian và phân tích mạch tương đương, đáp ứng tốt các yêu cầu kiểm tra linh kiện điện tử ở tần số cao.

Tính năng nổi bật
- Dải tần đo: 1 MHz – 1,3 GHz
- Tốc độ đo: nhanh nhất 0,5 ms
- Độ chính xác cơ bản: ±0,65%
- Độ biến thiên giá trị đo: 0,07% tại 1 GHz
- Phương pháp đo: RF I-V
- Dải trở kháng: 100 mΩ – 5 kΩ
- Màn hình: TFT màu cảm ứng 8,4 inch
- Kiểm tra tiếp xúc: DCR, loại Hi-Z hoặc phán định dạng sóng
- Đo quét: tần số, mức tín hiệu và khoảng thời gian
- Phân loại: Comparator và BIN
- Phân tích: mạch tương đương, bù tương quan
- Đầu đo nhỏ gọn: 90 × 64 × 24 mm
Đặc điểm nổi bật
- Đo trở kháng đến 1,3 GHz: Dải tần 1 MHz – 1,3 GHz, phù hợp kiểm tra linh kiện cao tần.
- Tốc độ đo 0,5 ms: Đáp ứng tốt các dây chuyền kiểm tra linh kiện số lượng lớn.
- Độ ổn định cao: Độ biến thiên chỉ 0,07% tại 1 GHz, độ chính xác cơ bản ±0,65% giá trị đọc.
- Phương pháp RF I-V: Đo đặc tính trở kháng linh kiện trong dải tần cao.
- Kiểm tra tiếp xúc: Hỗ trợ DCR, loại Hi-Z và phán định dạng sóng, hạn chế sai số do tiếp xúc kém.
- Quét và phân tích: Hỗ trợ quét tần số, quét mức tín hiệu, đo theo thời gian và phân tích mạch tương đương.
- Hỗ trợ đo linh kiện SMD: Kết hợp bộ gá IM9201, thuận tiện kiểm tra linh kiện dán nhiều kích thước.
Thông số kỹ thuật
| Thông số | Chi tiết |
| Chế độ đo | Chế độ LCR; chế độ phân tích (quét theo tần số và mức đo); chế độ đo liên tục |
| Thông số đo | Trở kháng Z, dẫn nạp Y, góc pha θ, điện trở nối tiếp Rs (ESR), điện trở song song Rp, điện kháng X, điện dẫn G, điện nạp B, điện dung nối tiếp Cs, điện dung song song Cp, độ tự cảm nối tiếp Ls, độ tự cảm song song Lp, tổn hao điện môi D (tanδ), hệ số phẩm chất Q |
| Dải đo được | 100 mΩ–5 kΩ |
| Dải hiển thị – Z | 0,00 mΩ–9,99999 GΩ |
| Dải hiển thị – Rs, Rp, X | ±(0,00 mΩ–9,99999 GΩ) |
| Dải hiển thị – Ls, Lp | ±(0,00000 nH–9,99999 GH) |
| Dải hiển thị – Q | ±0,00–9999,99 |
| Dải hiển thị – θ | ±0,000°–180,000° |
| Dải hiển thị – Cs, Cp | ±(0,00000 pF–9,99999 GF) |
| Dải hiển thị – D | ±0,00000–9,99999 |
| Dải hiển thị – Y | 0,000 nS–9,99999 GS |
| Dải hiển thị – G, B | ±(0,000 nS–9,99999 GS) |
| Dải hiển thị – Δ% | ±0,000%–999,999% |
| Độ chính xác cơ bản | Trở kháng Z: ±0,65% giá trị đọc; góc pha θ: ±0,38° |
| Tần số đo | 1 MHz–1,3 GHz, độ phân giải cài đặt 100 kHz |
| Mức tín hiệu đo – Công suất | -40,0 dBm đến +1,0 dBm |
| Mức tín hiệu đo – Điện áp | 4 mV–502 mV RMS |
| Mức tín hiệu đo – Dòng điện | 0,09–10,04 mA RMS |
| Trở kháng đầu ra | 50 Ω tại 10 MHz |
| Màn hình | TFT màu 8,4 inch, màn hình cảm ứng |
| Tốc độ đo | FAST: 0,5 ms (thời gian đo analog, giá trị điển hình) |
| Chức năng | Kiểm tra tiếp xúc, so sánh, phân loại BIN, lưu/tải thiết lập bảng điều khiển, bộ nhớ, phân tích mạch tương đương, hiệu chỉnh tương quan |
| Giao tiếp | I/O ngoài (Handler), USB, bộ nhớ USB, LAN, RS-232C tùy chọn, GP-IB tùy chọn |
| Nguồn điện | 100–240 V AC, 50/60 Hz, tối đa 70 VA |
| Kích thước máy chính | 215 × 200 × 348 mm (R × C × S) |
| Khối lượng máy chính | 8,0 kg |
| Kích thước đầu đo | 90 × 64 × 24 mm (R × C × S) |
| Khối lượng đầu đo | 300 g |
Ứng dụng sản phẩm
- Kiểm tra hạt ferrite dạng chip.
- Kiểm tra cuộn cảm dạng chip.
- Đánh giá linh kiện điện tử ở tần số cao.
- Nghiên cứu và phát triển linh kiện RF.
- Kiểm tra linh kiện trên dây chuyền sản xuất số lượng lớn.
- Đo và phân tích đặc tính trở kháng theo tần số.
- Phân loại linh kiện đạt/không đạt bằng Comparator và BIN.
- Phân tích mạch tương đương của linh kiện.
Phụ kiện sản phẩm
- 1 × Đầu đo.
- 1 × Cáp kết nối.
- 1 × Hướng dẫn sử dụng.
- 1 × Dây nguồn.
Những điều cần biết trước khi sử dụng Hioki IM7585
Với một thiết bị phân tích trở kháng tần số cao như thiết bị đo trở kháng Hioki IM7585, kết quả đo phụ thuộc khá nhiều vào cách kết nối test head, bộ gá và điều kiện thiết lập. Trước khi đo linh kiện, nên hoàn tất phần kết nối và bù sai số của đường đo để hạn chế ảnh hưởng từ cáp, đầu nối và fixture.
Quy trình kiểm tra và đo trở kháng
Quy trình dưới đây phù hợp khi sử dụng IM7585 để kiểm tra các linh kiện điện tử như cuộn cảm, tụ điện, ferrite bead hoặc các mẫu cần đánh giá đặc tính trở kháng trong dải tần cao.
Bước 1: Kết nối máy và test head
Đặt máy phân tích trở kháng trên bề mặt chắc chắn, sau đó kết nối test head với thân máy bằng cáp đi kèm. Khi siết đầu nối, Hioki lưu ý sử dụng đúng lực siết; với kết nối dạng torque wrench, chỉ siết đến khi tay cầm của khóa lực hơi uốn, không tiếp tục siết quá mức.
Bước 2: Lắp bộ gá hoặc đầu đo phù hợp
IM7585 không tích hợp sẵn fixture để kẹp mẫu. Người dùng cần lựa chọn bộ gá tương thích với loại linh kiện và phương pháp kiểm tra. Chẳng hạn, IM9201 được Hioki thiết kế cho phép đo trực tiếp linh kiện SMD, hỗ trợ nhiều kích thước mẫu; IM9202 phù hợp với các phép đo tần số cao đến 600 MHz.
Với các phép đo đến 1.3 GHz, cần đặc biệt chú ý đến cấu trúc kết nối và vị trí đặt mẫu vì ảnh hưởng của đường truyền trở nên đáng kể hơn so với phép đo LCR ở tần số thấp.
Bước 3: Khởi động và thiết lập điều kiện đo
Sau khi cấp nguồn, chọn chế độ phù hợp với mục đích kiểm tra:
- LCR Mode: dùng khi cần đo tại một điều kiện tần số và mức tín hiệu xác định.
- Analyzer Mode: phù hợp khi cần quét theo tần số hoặc mức tín hiệu để quan sát sự thay đổi của linh kiện.
- Continuous Measurement: dùng cho phép đo liên tục trong quá trình kiểm tra nhiều mẫu.
Sau đó thiết lập tần số đo, mức tín hiệu và tham số cần hiển thị. IM7585 hỗ trợ dải tần 1 MHz đến 1.3 GHz, mức công suất từ -40 dBm đến +1 dBm.
Bước 4: Thực hiện bù và kiểm tra đường đo
Trước khi đưa linh kiện vào đo, nên thực hiện các thao tác compensation/calibration phù hợp với fixture và mặt phẳng tham chiếu. Đây là bước quan trọng khi làm việc ở tần số cao vì đặc tính của cáp, đầu nối và bộ gá có thể ảnh hưởng đến kết quả.
Hioki cung cấp riêng bộ IM9905 Calibration Kit gồm chuẩn OPEN/SHORT/LOAD và tài liệu hướng dẫn thực hiện Open/Short Compensation cho dòng IM7580.
Bước 5: Kiểm tra tiếp xúc của mẫu
Đặt linh kiện đúng vị trí trên fixture, bảo đảm các điện cực tiếp xúc ổn định. IM7585 có chức năng Contact Check, cho phép kiểm tra tình trạng tiếp xúc giữa mẫu và các đầu đo nhằm phát hiện trường hợp tiếp xúc kém hoặc kết nối không đạt yêu cầu.
Đây là bước nên thực hiện trước khi đánh giá kết quả, đặc biệt khi đo các linh kiện SMD kích thước nhỏ.
Bước 6: Tiến hành đo và đọc kết quả
Kích hoạt phép đo sau khi các điều kiện đã ổn định. Tùy cấu hình, IM7585 có thể hiển thị nhiều tham số như:
- Trở kháng Z
- Trở kháng dẫn Y
- Góc pha θ
- Điện trở tương đương Rs/ESR, Rp
- Thành phần phản kháng X
- Điện cảm Ls, Lp
- Điện dung Cs, Cp
- Hệ số tổn hao D
- Hệ số chất lượng Q
- Độ dẫn G
- Độ susceptance B
Khi cần đánh giá đặc tính linh kiện theo nhiều điểm tần số, có thể chuyển sang Analyzer Mode để thực hiện frequency sweep hoặc các phép quét liên quan. IM7585 hỗ trợ sweep theo tần số, mức tín hiệu và khoảng thời gian.
Bước 7: Đánh giá hoặc phân loại mẫu
Nếu sử dụng máy trong kiểm tra sản xuất, có thể thiết lập Comparator để xác định mẫu đạt hoặc không đạt theo giới hạn đã đặt. Ngoài ra, chức năng BIN Measurement cho phép phân loại mẫu theo các khoảng giá trị được cấu hình.
Chu kỳ hiệu chuẩn khuyến nghị
Với thiết bị phân tích trở kháng làm việc đến 1.3 GHz, không nên chỉ dựa vào một khoảng thời gian cố định để quyết định hiệu chuẩn. Tần suất kiểm tra nên được xác định dựa trên mức độ sử dụng, yêu cầu độ chính xác của phép đo và quy trình quản lý thiết bị tại phòng thí nghiệm hoặc dây chuyền sản xuất.
Trong quá trình sử dụng, nên kiểm tra lại hệ thống đo khi:
- Thay đổi test fixture, probe hoặc cấu hình kết nối.
- Thay đổi cáp hoặc test head.
- Kết quả đo có dấu hiệu không ổn định so với các lần trước.
- Thiết bị phải làm việc liên tục trong môi trường sản xuất.
- Có yêu cầu kiểm soát truy xuất đo lường định kỳ.
Các lỗi thường gặp và cách xử lý
| Lỗi thường gặp | Cách khắc phục |
| Kết quả đo thay đổi nhiều giữa các lần đo | Kiểm tra lại tiếp xúc mẫu, fixture và thực hiện compensation trước khi đo. |
| Máy báo lỗi tiếp xúc | Kiểm tra vị trí đặt linh kiện, bề mặt điện cực và tình trạng tiếp xúc của fixture. |
| Giá trị đo lệch bất thường sau khi thay fixture | Thực hiện lại quá trình bù/hiệu chỉnh cho cấu hình đường đo mới. |
| Kết quả không ổn định ở tần số cao | Kiểm tra cáp, đầu nối, fixture và vị trí mẫu; hạn chế thay đổi cấu hình trong khi đo. |
| Không thể đo đúng loại linh kiện cần kiểm tra | Xác nhận fixture/probe có phù hợp với kích thước và cấu trúc mẫu hay không. |
| Kết quả PASS/FAIL không như mong muốn | Kiểm tra lại giới hạn Comparator và điều kiện đo đã thiết lập. |
| Giá trị thay đổi khi thao tác lên fixture | Kiểm tra độ chắc chắn của kết nối và tránh tác động cơ học lên mẫu trong lúc đo. |
Hướng dẫn bảo quản/bảo trì để tăng tuổi thọ thiết bị
Sau khi hoàn thành phép đo, nên đưa thiết bị về trạng thái an toàn rồi ngắt nguồn nếu không tiếp tục sử dụng. Test head, cáp kết nối và fixture cần được bảo quản tránh va đập, bụi bẩn và tác động cơ học lên đầu tiếp xúc.
Đặc biệt với máy đo trở kháng Hioki IM7585, không nên tự ý siết quá lực các đầu nối hoặc kéo mạnh cáp test head. Hioki cũng lưu ý khi kết nối test head phải kiểm soát lực siết để tránh làm hỏng đầu nối.
Fixture và các điểm tiếp xúc nên được kiểm tra định kỳ. Nếu bề mặt tiếp xúc bị bẩn hoặc xuống cấp, độ ổn định của phép đo có thể bị ảnh hưởng, nhất là khi kiểm tra linh kiện nhỏ ở tần số cao.
So sánh sản phẩm cùng phân khúc
| Tiêu chí | Hioki IM7585 | Hioki IM7583 | Hioki IM7587 | Hioki IM3590 |
| Loại thiết bị | Máy phân tích trở kháng | Máy phân tích trở kháng | Máy phân tích trở kháng | Máy phân tích trở kháng hóa học |
| Dải tần đo | 1 MHz – 1,3 GHz | 1 MHz – 600 MHz | 1 MHz – 3 GHz | 1 mHz – 200 kHz |
| Độ phân giải tần số | 100 kHz | 100 kHz | 100 kHz | Tối thiểu 1 mHz |
| Độ chính xác cơ bản | ±0,65% rdg. | ±0,65% rdg. | ±0,65% rdg. | ±0,05% rdg. |
| Tốc độ đo nhanh nhất | 0,5 ms | 0,5 ms | 0,5 ms | 2 ms |
| Phương pháp đo | RF I-V | RF I-V | RF I-V | LCR/đo trở kháng |
| Dải đo trở kháng | 100 mΩ – 5 kΩ | 100 mΩ – 5 kΩ | 100 mΩ – 5 kΩ | 100 mΩ – 100 MΩ |
| Màn hình | TFT màu 8,4″, cảm ứng | TFT màu 8,4″, cảm ứng | TFT màu 8,4″, cảm ứng | TFT màu 5,7″ |
| Kiểm tra tiếp xúc | Có | Có | Có | Có chức năng kiểm tra/đánh giá chuyên biệt |
| Comparator / BIN | Có | Có | Có | Có |
Nên mua thiết bị phân tích trở kháng Hioki IM7585 ở đâu uy tín?
Nếu bạn đang tìm kiếm máy phân tích trở kháng Hioki IM7585 chính hãng, việc lựa chọn đúng đơn vị phân phối uy tín là yếu tố quan trọng để đảm bảo thiết bị có nguồn gốc rõ ràng, độ chính xác ổn định và được hỗ trợ kỹ thuật trong quá trình sử dụng.
Tại Thương Tín, các dòng sản phầm được cung cấp chính hãng với đầy đủ chứng từ và chính sách hỗ trợ kỹ thuật, phù hợp cho các doanh nghiệp sản xuất linh kiện điện tử, phòng R&D, kiểm tra chất lượng và dây chuyền sản xuất số lượng lớn.
FAQ – Một số câu hỏi thường gặp
Thiết bị kiểm tra trở kháng Hioki IM7585 đo được những thông số nào?
Máy phân tích trở kháng Hioki IM7585 có thể đo và tính toán nhiều thông số điện như Z, Y, θ, Rs, Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D và Q. Thiết bị có dải đo trở kháng từ 100 mΩ đến 5 kΩ, phù hợp để phân tích các đặc tính của linh kiện điện tử như cuộn cảm, tụ điện, điện trở và các linh kiện RF trong quá trình R&D hoặc kiểm tra sản xuất.
Dòng sản phẩm Hioki IM7585 có dải tần bao nhiêu?
Máy đo trở kháng Hioki IM7585 có dải tần đo từ 1 MHz đến 1,3 GHz với độ phân giải cài đặt tần số 100 kHz. Dải tần cao này giúp thiết bị phù hợp với các ứng dụng kiểm tra linh kiện điện tử, linh kiện RF, chip ferrite, chip inductors và những sản phẩm cần đánh giá đặc tính trở kháng ở tần số cao.
Tốc độ đo của dòng máy Hioki IM7585 có nhanh không?
Thiết bị phân tích trở kháng Hioki IM7585 có tốc độ đo FAST đạt khoảng 0,5 ms cho thời gian đo analog theo giá trị điển hình. Tốc độ này phù hợp với dây chuyền kiểm tra sản xuất số lượng lớn, nơi cần rút ngắn thời gian kiểm tra nhưng vẫn duy trì khả năng đo ổn định giữa các mẫu.






Chưa có đánh giá nào.