Máy phân tích trở kháng Hioki IM7581 (100kHz ~ 300 MHz)
Hioki IM7581 là máy đo và phân tích trở kháng với dải tần số từ 100kHz đến 300mHz. Máy có thời gian đo rất nhanh, và cực kỳ chính xác. Máy phân tích trở kháng Hioki IM7581 phù hợp với nhiều ứng dụng trong thử nghiệm linh kiện điện tử. Với nhiều cổng kết nối tiện lợi, tốc độ nhanh hơn với tần số lên tới 300 MHz.
Thiết bị phân tích trở kháng Hioki IM7581 hỗ trợ tần số 100kHz đến 300MHz với tốc độ kiểm tra chỉ 0,5ms.
Hioki IM7581 phù hợp với nhiều ứng dụng trong việc kiểm tra linh kiện điện tử. Hioki IM7581 có thời gian đo rất nhanh, chỉ 0.5 ms hỗ trợ dải tần từ 100kHz đến 300MHz lý tưởng cho công việc sản xuất các hạt chip Ferrite và cuộn cảm số lượng lớn.
Tính năng nổi bật của máy phân tích trở kháng Hioki IM7581
Kế thừa những tính năng nổi bật của các dòng sản phẩm Hioki IM7587, IM7580A, hay thiết bị đo LCR Hioki IM3536. IM7581 có một số tính năng đặc biệt như:
• Tần số kiểm tra từ 100 kHz đến 300 MHz
• Tốc độ kiểm tra nhanh nhất 0.5 ms
• Độ chính xác cơ bản ± 0.72% rdg.
• Kiểm tra tiếp xúc toàn diện (thông qua thử nghiệm DCR, từ chối Hi-Z hoặc đánh giá dạng sóng)
• Thực hiện quét tần số, quét mức và đo khoảng thời gian trong Chế độ phân tích
Thông số kỹ thuật của máy phân tích trở kháng Hioki IM7581
Chế độ đo : Chế độ LCR, Chế độ phân tích, Chế độ đo liên tục
Thông số đo : Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Giải đo : 100 mΩ ~ 5 kΩ
Giải hiển thị :
– Z: 0.00 m to 9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m to 9.99999 GΩ)
– Ls, Lp: ± (0.00000 n to 9.99999 GH) / Q: ± (0.00 to 9999.99)
– θ: ± (0.000° to 180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p to 9.99999 GF)
– D: ± (0.00000 to 9.99999), Y: (0.000 n to 9.99999 GS)
– G, B: ± (0.000 n to 9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 % to 999.999 %)
Sai số : Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
Tần số đo : 100 kHz ~ 300 MHz
Mức tín hiệu đo :
– Công suất : -40.0 dBm ~ +7.0 dBm
– Điện áp : 4 mV ~ 1001 mVrms
– Dòng điện : 0.09 mA ~ 20.02 mAmsNgười dùng có thể cấu hình cho điện áp, dòng điện, công suất
Trở kháng đầu ra : 50 Ω
Màn hình : 8.4-inch color TFT , cảm ứng
Tốc độ đo : FAST: 0.5 ms / MED: 0.9 ms / SLOW: 2.1 ms / SLOW2: 3.7 ms *1
Giao tiếp : EXT I/O (Handler), USB , USB memory, LAN, RS-232C (optional), GP-IB (optional)
Nguồn cung cấp : 100 to 240 V AC, 50/60 Hz, 70 VA max.
Kích thước máy : 215x200x268mm, 6.5kg
Phụ kiện : Que đo ×1, Cáp kết nối ×1, HDSD ×1, Đĩa CD ×1, Đầu cắm nguồn ×1
Các mã sản phẩm
IM7581-01 | Kết nối dây cáp 1 m |
---|---|
IM7581-02 | Kết nối cáp 2 m |
Có cái gì trong hộp vậy
- Đơn vị chính
- Trưởng kiểm tra
- Cáp kết nối
- Dây điện
- Sổ hướng dẫn sử dụng
- Đĩa ứng dụng phân tích trở kháng
Quý khách đặt hàng vui lòng liên hệ số Hotline để được tư vấn và nhận đựơc báo giá tốt nhất.
pv huy –
Các Hioki IM7581-01 cung cấp một thời gian đo lường hàng đầu của 0.5ms trên một dải tần số 100kHz đến 300MHz, làm cho nó lý tưởng cho sản xuất khối lượng cao của các hạt chip ferrite và cuộn cảm chip.
Công nghệ đo lường bổ sung khả năng vượt trộiPhần đo sử dụng bộ chuyển đổi A / D có độ phân giải cao. Bằng cách kiểm soát mức và tần số của tín hiệu đầu vào, phạm vi động của bộ chuyển đổi A / D có thể được sử dụng cho phép đo tối đa, đạt được với phạm vi trở kháng rộng và biến thiên tối thiểu. Trong FPGA phụ, được xây dựng thành các mạch tương tự, bộ lọc kỹ thuật số được áp dụng tối ưu cho mỗi mạch tắt tiếng ồn. Tại FPGA chính, tính toán điểm nổi 64-bit được đặt qua một đường ống nhiều lớp để đạt được xử lý tính toán tốc độ cao với một chút sai sót. Điều này giúp tăng tính ổn định và tốc độ đo.
Lá chắn rắn lớn để cải thiện hiệu suấtMỗi phần sử dụng một lá chắn rắn được chạm khắc để phù hợp với mô hình trên bo mạch hoặc hình dạng IC, do đó giảm khớp nối bên trong. Lá chắn cũng làm giảm bức xạ bên ngoài và cải thiện khả năng chống ồn, đáp ứng một mức độ cao của EMC, mặc dù là nhẹ nhất trong lớp của nó.Kích thước nửa rack tiết kiệm không gianYếu tố hình thức nhỏ gọn – 2 máy phân tích phù hợp với nhau trên một giá đầy đủ kích thước. Đáng chú ý là nhẹ và nhỏ gọn cho một dụng cụ đo lường của lớp này.
Màn hình lớn cho hoạt động dễ dàng
Tùy chỉnh màn hình lớn theo độ sáng, màu sắc và kích thước văn bản mong muốn để phù hợp với môi trường của bạn. Màn hình cảm ứng có độ nhạy cao giúp việc cài đặt và điều chỉnh đo dễ dàng hơn.
Đầu thử nghiệm phù hợp trong lòng bàn tay của bạn
Cấu hình mỏng của đầu thử nghiệm cho phép bạn lắp đặt nó gần với mục tiêu đo để giúp giảm thiểu ảnh hưởng từ tiếng ồn và các hiệu ứng khác và cho phép điều chỉnh chính xác hơn.
Chế độ đo kép
Hiển thị đồng thời bốn thông số đo.
Chế độ LCR
Sử dụng chế độ LCR để thực hiện các phép đo bằng cách áp dụng tín hiệu mức và tần số mong muốn cho thành phần được đo. Chế độ này lý tưởng để đánh giá các mẫu thụ động như tụ điện và cuộn dây.
Chế độ phân tích
Sử dụng Chế độ phân tích để thực hiện phép đo trong khi quét qua một loạt tần số đo và mức tín hiệu đo. Chế độ này lý tưởng để kiểm tra đặc tính tần số và đặc tính mức.